Mikroszkóp laboratórium

A labor atórium bemutatása

• Alapítás éve: 2012
Kapacitás (munkaóra/hónap): 80A laboratórium elsődleges profilja a belsőégésű motorok súrlódásnak kitett felületeinek vizsgálata és mérése, illetve motoralkatrészek kárelemzése. Az eszközökkel az alkatrészek makroszkópos ill. mikroszkópos vizsgálata, optikai érdességmérése, kopásmérése, 3D-s szkennelése illetve profilmérése lehetséges. Emellett az alkatrészek tömegének precíziós mérésére is lehetőség van.
Referenciák: motor kárelemzése (Audi Hungaria Motor Kft.), tüzelőanyag-lerakódások vizsgálata befecskendező
fúvókákon (MOL Nyrt.). Szenzorok érintkezőinek kopásmérése (Bourns Kft.).

 


Laborvezető
Mustó Veronika
tanszéki mérnök

 

A laboratórium eszköz- és szoftverállománya

Zeiss SteREO Discovery. V8 sztereomikroszkóp

• Beszerzés éve: 2012
• Műszaki specifikáció:
Manuális fókusz és zoom,
Zoom-átfogás: 8x,
Nagyítás 1x objektívvel: 10-80x,
Számítógéppel összekötve: mérési lehetőség a képen, felvételek mentése és feldolgozása.




Zeiss SteREO Discovery. V20 sztereo-mikroszkóp

• Beszerzés éve: 2012
• Műszaki specifikáció:
Motorizált fókusz és zoom,
Zoom-átfogás: 20x,
Nagyítás 1x objektívvel: 7,5-150x,
Számítógéppel összekötve: mérési lehetőség a képen, felvételek mentése és feldolgozása,
Mozaikkép készítése (stitching) motorizált asztal és fókusz segítségével.




Keyence VH X-1000 digitális mikroszkóp

• Beszerzés éve: 2012
• Műszaki specifikáció:
Rendelkezésre álló objektívek nagyítása: 5-50x, 20-200x, 50-500x LWD, 100-1000x,
Hordozható rendszer, 
Mérés az élő képen,
HDR-képek (16 bit),
Akár 54MP felbontás (CCD-szenzor mozgatásával),
Felületek 3D-s szkennelése,
Profil- és alakmérések,
Mozaikkép készítése (stitching) 2D-ben és 3D-ben.




Leica DCM3D konfokális mikroszkóp, fehérfény-interferométer és digitális mikroszkóp

• Beszerzés éve: 2012
• Műszaki specifikáció:
Nagyítás: ~ 250 - 2500 x,
Objektívek nagyítása (10x, 20x, 50x, 100x),
Felület 3D-s szkennelése,
Látómező: 1270 x 950 μm– 127 x 95 μm,
Motorizált tárgyasztal,
Mozaikkép (stitching) funkció,
Érdességmérés μm-tartományban konfokális szenzorral ill. nm-tartományban fehér fény interferométerrel.




Sartor ius CCE 66 mikromérleg

• Beszerzés éve: 2012
• Műszaki specifikáció:
Alkalmas alkatrészek kopásmérésére,
Automatikus kalibráció,
Méréstartomány: 0-60 g,
Felbontás: 1 μg.




Tribológiai kísérleteink kiértékeléséhez elengedhetetlen a megfelelő analitikai eszköztár. Laboratóriumunkban a hagyományos sztereomikroszkópok mellett digitális mikroszkóp, konfokális mikroszkóp, fehérfény interferométer, pásztázó elektronmikroszkóp és mikrogramm pontosságú mérlegek segítik a felületek topográfiájának, összetételének és a próbatestek kopásának meghatározását.

Bevonatolt próbatest berágódott futófelülete

SZENGINE

Eseménynaptár

Nyári ügyeleti rend 2017. július 27. 00:00 - 2017. augusztus 20. 23:00
Munkaszüneti nap 2017. augusztus 20. 00:00 - 23:55
Bejelentkezés a 2017/18. tanév I. félévére 2017. augusztus 23. 06:00 - 2017. szeptember 2. 23:55
Központi áramszünet 2017. augusztus 25. - 2017. augusztus 26.
Tantárgyválasztás a 2017/2018. tanév első félévére 2017. augusztus 28. 06:00 - 2017. szeptember 2. 23:55